高精度光譜橢偏儀針對科研和工業環境中薄膜測量推出的高精度快速攝譜型光譜橢偏儀，波長范圍覆蓋紫外、可見到紅外。光譜橢偏儀基于高靈敏度光譜探測單元和光譜橢偏儀分析軟件，用于測量單層和多層納米薄膜的層構參數（如，厚度）和物理參數（如，折射率n、消光系數k，或介電函數ε1和ε2），也可用于測量塊狀材料的光學性質。

產品型號：BX-G101

更新時間：2025-02-08

廠商性質：生產廠家

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PRODUCT CLASSIFICATION

工業專用儀表

應力儀光學儀表滲透壓測定儀其它檢測儀器地質勘探硬度計成孔質量檢測儀錨桿檢測儀測樁儀測力儀超前預報測試儀波速測試儀水位計熱量表溶出儀熱分析儀糖度儀折光儀(折射儀) X射線實時成像檢測機鋼絲繩檢測儀無損檢測儀/分選儀功率計微波天線測量系統放大器信號源頻率計高斯計輻射測量儀撓度檢測儀混凝土檢測儀壓力傳感器速度傳感器變送器液位計內窺鏡回彈儀裂縫檢測儀厚度檢測儀測厚儀探傷儀管道泄漏紙張測試儀粗糙度儀 Xγ輻射測量儀旋光儀熔點儀密度儀光澤度儀霧度計測色儀/色差儀地下管線探測儀信號線路測試儀爆破測試機抗熔試驗儀熱傳導性能測試儀熱輻射性能測定儀火焰蔓延性能測試儀氧指數測定儀阻燃測定儀白度儀記錄儀沉降儀找水儀空洞儀拉拔儀鋼筋檢測

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關鍵詞：高精度光譜橢偏儀

橢偏儀儀器光譜橢偏儀橢偏儀分析橢偏儀設備分光橢偏儀

產品用途：

高精度光譜橢偏儀針對科研和工業環境中薄膜測量推出的高精度快速攝譜型光譜橢偏儀，波長范圍覆蓋紫外、可見到紅外。光譜橢偏儀基于高靈敏度光譜探測單元和光譜橢偏儀分析軟件，用于測量單層和多層納米薄膜的層構參數（如，厚度）和物理參數（如，折射率n、消光系數k，或介電函數ε1和ε2），也可用于測量塊狀材料的光學性質。

儀器特點：

1. *的旋轉補償器測量技術：橢偏角△的測量范圍是0-360o，無測量死角問題，也可消chu粗糙表面引起的消偏振效應對結果的影響

2. 秒級的全光譜測量速度：全光譜測量典型時間5-10秒

3. 原子層量級的檢測靈敏度：可以測量單原子層

4. 視頻式樣品對準：精準完成樣品對準，并方便觀察，減小人為誤差

5. 多入射角度調節：多入射角度結構設計，增強了儀器測量的靈活性，尤其適合于超薄樣品或復雜的樣品的測量場合

6. 反射率/透射率測量：對樣品進行光譜透射率和反射率測量

7. 一鍵式儀器操作：對于常見操作，只需鼠標點擊一個按鈕即可完成復雜的測量、建模、擬合和分析過程，豐富的模型庫和材料庫也同時方便了用戶的高ji操作需求

技術參數：